一般在實(shí)驗(yàn)室測驗(yàn)端子質(zhì)量的辦法有兩種：電壓降試驗(yàn)和溫升試驗(yàn)。

電壓降試驗(yàn)可用于確認(rèn)銜接點(diǎn)的電阻。當(dāng)導(dǎo)線初次接好時(shí)，并用當(dāng)在振動，溫度循環(huán)和腐蝕的條件下，它反映較初的夾緊點(diǎn)的質(zhì)量。溫升試驗(yàn)也是銜接電阻的和種反響。它允許整套的接線端子在規(guī)范電流、大電流和短路的條件下被查看。

在長期工作時(shí)，尤其在溫度變化時(shí)接點(diǎn)的壓降會大大地改動。加熱和冷卻使各觸摸件脹大和縮短，從而改動觸摸壓力和使導(dǎo)線變形。假如這點(diǎn)沒有給予補(bǔ)償（即擰緊螺釘），則觸摸處將發(fā)生升高的壓降，該壓降較終會阻礙信號或引起電弧。而籠式彈簧夾持能夠自動地根據(jù)導(dǎo)線的種類和粗細(xì)進(jìn)行調(diào)理。壓降幾乎保持不變一確保長期的可靠性。

為防止這些環(huán)境中接線端子會因此遭到變形等問題，接線端子和接插件中的觸摸材料有必要具有內(nèi)涵的防腐蝕性能。